全自动微区膜厚测试仪

时间:2024-06-25点击次数:20

全自动微区膜厚测试仪是天瑞仪器集多年X荧光膜厚测量技术于一身研发的高 精度镀层厚度检测设备,以下是对其的详细介绍:

    产品型号与品 牌

    型 号:EDX2000A

    品 牌:江苏天瑞仪器股份有限公司

    技术特点

    自动化操作:通过自动化的三轴三维移动和双激光定位及保护系统,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦分析。

    高 精度测量:全新的光路设计,更短的光程,相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上,保证了测量的高 精度。

    可编程多点测试:能自动完成对多个样品多个点的测试,大大提高了测样效率。

    行业适应性:不仅在常规的传统电镀上表现优异,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

    设计亮点

    上照式设计:可适应更多异型微小样品的测试。

    可变焦高精摄像头:搭配距离补正系统,不仅可适应微小产品,同时也兼顾了台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。

    使用方法

    打开电源开关并等待预热和稳定。

    将待测样品放置在台面上,并确保其表面清洁、光滑。

    调节测量头使其与样品接触并保持垂直。

    启动测量程序,等待测量结果显示完成并记录数值。

综上所述,全自动微区膜厚测试仪EDX2000A是一款功能强大、操作简便、高 精度的测量设备,能够满足各种复杂形态的样品测试需求,并广泛应用于电镀、半导体、芯片及PCB等行业。



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