天瑞X荧光镀层测厚仪EDX-T
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产品描述

探测器Fast-SDD探测器 外形尺寸660(W)×860(D)×735(H)mm 电源电压AC220V±5V 元素分析范围13铝(Al)~92铀(U) 同时分析元素24种元素,五层镀层 分析含量一般为ppm到99.9% 厚度分析范围≤50微米 检出限0.0025微米 分析误差小于3% 分析时间5-30秒 探测器分辨率140±5ev 样品室尺寸600mm×600mm×140mm 重量120kg 操作环境温度15-30℃,湿度≤70%

产品说明、技术参数及配置

EDX-T是天瑞仪器股份有限公司集30多年X荧光膜厚测量技术,研发的一款全新上照式X射线荧光分析仪,该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精 准分析。能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

镀层测厚应用场景1


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