X射线荧光光谱仪
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产品描述

探测器SDD探测器 电源电压AC220V±5V 元素分析范围16硫(S)~92铀(U) 同时分析能力24种元素，五层镀层 分析含量一般为ppm到99.9% 分析厚度范围≤50微米 检出限0.005微米 分析误差小于3% 分析时间5-30秒 探测器分辨率140±5ev 重量90kg 操作环境温度15-30℃，湿度≤70%

2024/4/10 11:26:34

X射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，XRF）是一种用于分析样品中元素成分的仪器。它通过激发样品产生X射线荧光，然后测量荧光的能量和强度来确定样品中各种元素的含量和分布。X射线荧光光谱仪广泛应用于材料科学、地质学、环境监测、金属分析等领域。以下是关于X射线荧光光谱仪的工作原理和应用：

工作原理：

    激发样品：X射线荧光光谱仪使用X射线管产生高能X射线束，照射到样品表面，激发样品中的原子产生X射线荧光。


    荧光检测：样品中的原子在受激发后会发射出特定能量的X射线荧光，荧光的能量和强度与元素种类和含量相关。


    能谱分析：X射线荧光光谱仪通过能谱分析，测量和记录荧光的能谱图谱，从中确定样品中各种元素的含量。


应用领域：

    材料分析：X射线荧光光谱仪可用于金属、合金、陶瓷、玻璃等材料的成分分析和质量控制。


    镀层测厚：用电镀行业表面金属镀层膜厚测量及样品中元素含量的分析和研究。


    环保管控：可用于电子电器、玩具塑料等行业样品中ROHS有害物质元素的检测管控。


    成分分析：适用于金属材料中元素含量的分析，如合金成分分析、金属材料质量控制等



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