• 镀层测厚仪
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产品描述

元素分析范围13铝(Al)~92铀（U） 同时检测能力24种元素，五层以上镀层 分析含量0.1%~99.9% 分析厚度50μm以内 检出限0.005μm 厚度标准偏差小于3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 分析时间5~40秒 外形尺寸497mm×427mm×468mm 重量40kg 操作环境0~30℃，温度≤70% 工作电源AC220V±5V

产品说明、技术参数及配置

EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，不需液氮，不需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行精 准检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。

EDX600PLUS 4×3

应用领域
电镀行业 
五金卫浴 
磁性材料 
航天新能源
电子电器 
汽车制造 
贵金属镀饰

硬件配置
进口的高功率 高压单元搭配微焦斑的X光管,大大的确保了信号输出的效率与稳定性。
EDX600PLUS能完 美的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上,EDX600 PLUS也有着很大的优势,它可以搭配的准直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用很小的准直器得到的很小光斑,让小样品的测量也变得游刃有余。

设计亮点
全新的下照式设计，一键式的按钮，大大减少摆放样品时间。全新的光路系统，大大减少了光斑的扩散，实现了对很小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高 性 能距离补正算法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲面等)的异型测试面的精 准测试。

软件界面
人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注，让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。


http://www.skyray17.com
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Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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