X荧光镀层测厚仪
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产品描述

元素检测范围13铝(AL) ~ 92铀(U) 检出限0.005μm 分析含量0.1% ~ 99.9% 检测时间5-40秒 厚度偏差范围<3% 探测器大窗口Fast-SDD探测器 能量分辨率140±5eV X射线装置50KV/1mA微焦斑X光管 仪器重量60kg 样品腔尺寸430mm×400mm×140mm 仪器尺寸485mm×588mm×505mm 环境温度0℃~30℃,湿度≤70% 电源AC220V±5V
EDX2000A详情
http://www.skyray17.com
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