天瑞仪器Xray镀层检测仪EDX2000A
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产品描述

元素检测范围13铝(Al)~92铀(U) 同时检测元素可同时分析24种元素,五层以上镀层 含量测试范围0.1%~99.9% 厚度范围≤50μm 检出限0.005μm 厚度标准偏差≤3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 检测时间5~40秒 外形尺寸485mm×588mm×505mm 仪器重量60kg 操作环境温度0~30℃,湿度≤70% 工作电源AC220V±5V

产品说明、技术参数及配置

EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精 准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

应用领域
电镀行业、电子通讯、航空新能源、五金卫浴、电器设备
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等

硬件配置高
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精 准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保 障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高 精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,可精 准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

设计亮点
上照式设计,可适应异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。

软件界面
人性化的软件界面,让操作变得便捷。
曲线的中文备注,让您的操作易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用放心。


http://www.skyray17.com
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Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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