金属镀层测厚仪 EDX2000A 诚信服务
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产品描述

元素检测范围13铝(AL) ~ 92铀(U) 检出限0.005μm 分析含量0.1% ~ 99.99% 检测时间5-40秒 厚度偏差范围<3% 探测器大窗口Fast-SDD探测器 能量分辨率140±5eV X射线装置50KV/1mA微焦斑X光管 仪器重量60kg 样品腔尺寸430mm×400mm×140mm 仪器尺寸485mm×588mm×505mm 环境温度0℃~30℃,温度≤70% 电源AC220V±5V
X射线荧光测厚仪是一种用于测量材料厚度的仪器。它通过向样品表面发射X射线,并测量被样品反射和散射的X射线来获取厚度信息。荧光测厚仪通常使用荧光屏或探测器来检测反射和散射的X射线,并根据X射线的能量来确定样品的厚度。这种仪器广泛应用于行业,如金属制造、建筑工程、化工等,用于测量金属、玻璃、陶瓷等材料的厚度,具有高精度和快速测量的优点。
金属镀层测厚仪是一种用于测量金属表面镀层厚度的仪器。其特点包括:
1. 高精度测量:金属镀层测厚仪采用的测量技术和传感器,能够实现的测量结果,通常精度可达到微米级别。
2. 多功能性:金属镀层测厚仪具备多种测量模式和功能,包括单点测量、多点测量、平均测量等,能够适应不同的应用需求。
3. 便捷:金属镀层测厚仪操作简单,仪器重量轻,便于携带和使用。同时,它的测量速度快,通常只需几秒钟即可完成一次测量。
4. 大范围测量:金属镀层测厚仪能够适应不同材料和不同厚度范围的测量需求,常见的测量范围可达几微米至几百微米。
5. 非破坏性测量:金属镀层测厚仪采用非接触式测量技术,无需对被测金属进行破坏性处理,能够有效保护样品的完整性。
6. 可靠性和稳定性:金属镀层测厚仪具备较高的可靠性和稳定性,能够在不同环境条件下工作,并能提供稳定和一致的测量结果。
总之,金属镀层测厚仪具备高精度、多功能、便捷、大范围测量、非破坏性测量、可靠性和稳定性等特点,适用于金属加工、电镀、热喷涂、薄膜涂层等领域的材料厚度测量。
金属镀层测厚仪
表面金属电镀测厚仪是一种用于测量金属电镀层厚度的仪器。它的特点包括:
1. 非接触测量:该测厚仪使用了无接触式的测量方式,可以避免对被测物体造成损伤或污染。
2. 高精度测量:该仪器采用了的测量技术,具有高精度、高重复性的测量结果,能够满足电镀层厚度的要求。
3. 快速测量:该测厚仪测量速度快,能够在短时间内得出准确的测量结果,提高工作效率。
4. 易于操作:该仪器使用简单,操作界面友好,操作人员只需进行简单的操作即可完成测量任务。
5. 多功能应用:该测厚仪适用于金属电镀层的测量,如镀锌层、镀铬层、镀锡层等。
6. 轻便便携:该仪器体积小巧,重量轻,便于携带和使用,适合实地操作。
总之,表面金属电镀测厚仪具有测量精度高、操作简单、易于携带等优点,能够满足金属电镀行业对测量厚度的需求。
金属镀层测厚仪
电镀测厚仪是一种用于测量电镀层厚度的仪器。其特点包括:
1. 非破坏性测量:电镀测厚仪可以通过电磁感应或超声波等方法测量电镀层的厚度,无需对被测物体进行破坏性测试。
2. 高精度:电镀测厚仪能够提供的测量结果,通常精度可达到几个微米。
3. 易于使用:电镀测厚仪操作简单,只需将传感器贴附在被测表面上即可进行测量,无需复杂的校准和调试过程。
4. 多功能测量:除了测量电镀层的厚度,电镀测厚仪还可以测量其他涂层或薄膜的厚度。
5. 快速测量:电镀测厚仪可以在几秒钟内完成一次测量,提高了工作效率。
6. 可靠性:电镀测厚仪具有较高的可靠性和稳定性,可以长时间稳定工作。
总之,电镀测厚仪具有非破坏性、高精度、简单易用、多功能、快速和可靠等特点,是电镀厂和相关行业常用的测量工具。
金属镀层测厚仪
X射线荧光测厚仪是一种用于非破坏性测量材料厚度的设备。其主要特点包括:
1. 非破坏性测量:X射线荧光测厚仪不需要对被测物体进行破坏性测试,可以保持被测物体的完整性。
2. 高精度测量:X射线荧光测厚仪能够提供高精度的测量结果,可以满足对厚度要求较高的应用场景。
3. 广泛适用性:X射线荧光测厚仪适用于多种材料,包括金属、塑料、陶瓷等,可以测量不同厚度范围的物体。
4. 快速测量:X射线荧光测厚仪的测量速度较快,通常只需要几秒钟就可以测量出物体的厚度。
5. 非接触式测量:X射线荧光测厚仪通过发送射线并测量其反射和荧光来测量物体厚度,无需与被测物体接触,避免了可能引起污染或损坏的情况。
6. 易于操作和维护:X射线荧光测厚仪通常具有简单易懂的操作界面,操作方便。同时,对于仪器的维护保养工作也相对简单。
X射线荧光镀层测厚仪主要用于测量金属、非金属和半导体材料上的薄膜或涂层的厚度。它适用于行业,包括电子、光电子、化工、材料科学、半导体制造等。该仪器可用于检测金属薄膜的厚度,如金、银、铜等,也可用于测量非金属薄膜的厚度,如聚合物、陶瓷等材料。此外,X射线荧光镀层测厚仪还可以用于测量涂层的成分组成、元素分布和杂质含量等。总之,它是一种用于分析材料表面薄层和涂层的仪器设备。
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