元素检测范围13铝(AL) ~ 92铀(U)
检出限0.005μm
分析含量0.1% ~ 99.99%
检测时间5-40秒
厚度偏差范围＜3%
探测器大窗口Fast-SDD探测器
能量分辨率140±5eV
X射线装置50KV/1mA微焦斑X光管
仪器重量60kg
样品腔尺寸430mm×400mm×140mm
仪器尺寸485mm×588mm×505mm
环境温度0℃~30℃，温度≤70%
电源AC220V±5V
表面金属电镀测厚仪，也称为电镀涂层测厚仪，是一种用于测量金属表面电镀涂层厚度的仪器。
该仪器通过使用非破坏性的测量技术，可以准确地测量金属表面的电镀涂层厚度。它通常采用电磁感应原理或超声波测量原理进行测量。
使用表面金属电镀测厚仪可以对金属表面的电镀涂层进行快速、准确的测量，并且不需对被测试的物体进行破坏性的测试。这对于确保金属制品的质量和性能重要，特别是在一些需要控制涂层厚度的行业，如汽车、等。
总的来说，表面金属电镀测厚仪是一种重要的工具，用于对金属表面电镀涂层进行测量和控制，以确保产品质量和性能的稳定和一致性。
金属镀层厚度分析仪是一种用于测量金属镀层厚度的工具。其特点包括：
1. 高精度：金属镀层厚度分析仪采用的测量技术，能够实现对金属镀层厚度的测量，具有的测量精度。
2. 非破坏性测量：金属镀层厚度分析仪采用非接触式测量方法，不需要对样品进行破坏性取样，能够保持样品的完整性。
3. 多功能：金属镀层厚度分析仪可以测量不同种类的金属镀层，例如镀金、电镀、镀铬等，适用于多种应用领域。
4. 快速便捷：金属镀层厚度分析仪操作简单，测量速度快，能够快速获取金属镀层厚度的准确数值。
5. 数据处理和存储：金属镀层厚度分析仪配备数据处理和存储功能，能够对测量结果进行分析和记录，方便后续的数据管理和处理。
6. 可靠性高：金属镀层厚度分析仪采用了稳定的测量原理和结构设计，具有较高的可靠性和耐用性，能够满足长期稳定的使用需求。
总结起来，金属镀层厚度分析仪具有高精度、非破坏性测量、多功能、快速便捷、数据处理和存储以及可靠性高等特点，是金属镀层厚度测量的重要工具。
电镀层测厚仪是一种专门用于测量电镀层厚度的仪器设备。其主要特点包括：
1. 高精度：电镀层测厚仪采用的测量技术和精密的传感器，能够实现高精度的测量结果。
2. 非破坏性测量：电镀层测厚仪通过非接触式的测量方式，不需要对被测物体进行破坏性采样，保持被测物体的完整性。
3. 快速测量：电镀层测厚仪能够快速完成对电镀层厚度的测量，提高工作效率。
4. 易于操作：电镀层测厚仪具有简单直观的操作界面，操作方便，无需技术人员即可进行测量。
5. 多功能应用：电镀层测厚仪可以适用于不同种类的电镀层，如金属电镀、涂层等。
6. 数据存储和分析：电镀层测厚仪具有数据存储和分析功能，可以保存测量结果并生成相应的数据报告。
7. 轻便携带：电镀层测厚仪通常体积小且重量轻，便于携带和使用。
总体而言，电镀层测厚仪具有高精度、快速测量、非破坏性等特点，可广泛应用于电镀行业中的质量控制和产品检验。
X射线荧光镀层测厚仪是一种常用于测量金属表面镀层厚度的仪器。其主要特点包括：
1. 非破坏性测量：X射线荧光镀层测厚仪可以在不破坏被测物体的情况下进行测量，不影响镀层的使用和功能。
2. 高精度测量：该仪器能以的方式测量金属表面镀层的厚度，通常可以达到几个微米的测量精度。
3. 宽波段测量范围：X射线荧光镀层测厚仪能够覆盖较宽的测量范围，可以适用于不同类型和厚度的金属表面镀层。
4. 快速测量速度：利用该仪器可以快速完成测量，提高工作效率，适用于大批量的产品质量检验和生产控制。
5. 全自动操作：该仪器具备全自动操作的功能，操作简便，无须人工干预。
6. 数据记录和分析功能：测量结果可以自动记录和分析，生成报告，方便数据管理和质量控制。
总体来说，X射线荧光镀层测厚仪具备非破坏性、高精度、快速和自动化等特点，是一种重要的测量工具，广泛应用于金属制造和加工行业。
镀层厚度测量仪是一种用于测量金属、涂料、电镀等物质的厚度的仪器。它具有以下特点：
1. 非破坏性测量：镀层厚度测量仪采用非破坏性测量原理，不需要对被测物体进行破坏性取样，可以保持被测物体的完整性，避免损坏和浪费。
2. 快速准确：镀层厚度测量仪具有快速测量速度和高度的测量结果。它能够在短时间内对被测样品进行测量，并提供准确的厚度数据，提高生产效率和产品质量。
3. 可靠性高：镀层厚度测量仪采用的测量技术和量的传感器，具有高度的可靠性和稳定性。它可以在不同环境条件下进行测量，适应于工业场景。
4. 操作简便：镀层厚度测量仪通常具有简单直观的操作界面和易于使用的功能按钮，操作方便快捷，不需要专门培训。
5. 多功能性：镀层厚度测量仪通常具有多种功能，如测量多种不同材料的厚度、温度和湿度的测量等。它可以满足不同领域和行业的需求。
总的来说，镀层厚度测量仪具有非破坏性、快速准确、高可靠性、操作简便和多功能性等特点，是现代工业生产中的重要工具。
X射线荧光镀层测厚仪主要用于测量金属、非金属和半导体材料上的薄膜或涂层的厚度。它适用于行业，包括电子、光电子、化工、材料科学、半导体制造等。该仪器可用于检测金属薄膜的厚度，如金、银、铜等，也可用于测量非金属薄膜的厚度，如聚合物、陶瓷等材料。此外，X射线荧光镀层测厚仪还可以用于测量涂层的成分组成、元素分布和杂质含量等。总之，它是一种用于分析材料表面薄层和涂层的仪器设备。
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