天瑞仪器X荧光镀层厚度分析仪EDX600PLUS
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产品描述

元素测量范围13铝(Al)~92铀(U) 同时检测能力24种元素,五层以上镀层 含量测试范围0.1%~99.9% 分析厚度范围≤50μm 检出限0.005μm 厚度标准偏差≤3% 探测器Fast-SDD探测器 探测器分辨率140±5ev X射线装置微焦斑W靶光管 分析时间5~40秒 外形尺寸497mm×427mm×468mm 仪器重量45kg 操作环境温度0~30℃,湿度≤70% 工作电源AC220V±5V
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